溫度沖擊試驗(yàn)箱用來測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫、低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，適用于科研、學(xué)校、工廠等單位用于電工、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料、軸承等各種材料在溫度急劇變化環(huán)境下的適應(yīng)性試驗(yàn)。
試驗(yàn)?zāi)康?br />
確定測(cè)試產(chǎn)品在周圍大氣溫度急劇變化時(shí)的適應(yīng)性及被破壞性。
試驗(yàn)條件
高溫箱：RT～150℃，低溫箱：RT～-40℃，試驗(yàn)溫度保持時(shí)間：1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長(zhǎng)者為準(zhǔn),循環(huán)次數(shù)：針對(duì)各個(gè)不同行業(yè)不同廠家所對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)要求不一樣，按照標(biāo)準(zhǔn)上的試驗(yàn)方法測(cè)試。
試驗(yàn)要求
a.采用高溫箱和低溫箱進(jìn)行冷熱沖擊試驗(yàn),以提供試驗(yàn)樣品經(jīng)受周圍空氣溫度急劇發(fā)生變化的環(huán)境溫度。
b.高溫區(qū)的要求,應(yīng)符合GJB150.3-86《設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》的第3章各條所規(guī)定的要求。
c.低溫區(qū)的要求，應(yīng)符合GJB150.4-86《設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》的第3章各條所規(guī)定的要求。
d.提供高溫試驗(yàn)部分和低溫試驗(yàn)部分,應(yīng)分別符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的第3章各條所規(guī)定的要求。
e.試驗(yàn)箱的容積應(yīng)保證在試驗(yàn)樣品放入候補(bǔ)超過試驗(yàn)溫度保持時(shí)間的10%就能使試驗(yàn)箱(室)溫度達(dá)到GJB150.1-89中3.2條規(guī)定的試驗(yàn)條件容差范圍之內(nèi)。
